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X射線探測器系列化

線性探測器
　　正比探測器、閃爍探測器
　　使用時需要配置單色器，有效去掉Kβ線。
　　最大線性計數(shù)：≥5×10⁵CPS
　　能譜分辨率：正比≤25%、閃爍≤50%。

SDD硅漂移探測器
　   探測器型號是：MYTHEN2 1D detector 由瑞士 DECTRIS Ltd.生產(chǎn)。

      DX系列衍射儀配置MYTHEN2 1D detector后可以選擇使用0D或是1D測量方式，0D測量方式滿足低角度（0°開始）測量需求，1D測量方式實現(xiàn)對樣品快速（36°/分）測量。

半導體線陣探測器
　　由640個探測器組成的一維半導體陳列探測器，相比傳統(tǒng)的閃爍或正比探測器可以提高衍射強度120倍以上，在較短時間內(nèi)，獲取高靈敏度、高分辨率完整的衍射譜圖，并且還有非常好的去熒光能力，即使是測量強熒光的樣品，一維半導體陳列探測器提供的數(shù)據(jù)也展示出非常好的信噪比。
　　最大線性計數(shù)：≥9×10⁹CPS，能譜分辨率：≤25%；有高計數(shù)模式及去除熒光背景兩種工作模式。

高速陣列探測器

       探測器型號是： MiniPIX 60K 由捷克航空實驗室制作，有效面積14×14mm、像素尺寸55μm、像素數(shù)量256×256、每個像素線性計數(shù)值3×10⁶。

      DX系列衍射儀配置MiniPIX 60K后可以選擇使用0D或是1D或是2D測量方式，0D測量方式滿足低角度（0°開始）測量需求；1D測量方式實現(xiàn)對樣品快速（36°/分）測量；2D測量方式用拍照方法獲取2θ角3度范圍衍射環(huán)，直觀觀察到晶面取向的信息。

半導體陣列探測器Si樣品衍射譜圖

DX系列衍射儀可以同時配置多種探測器，由衍射儀控制軟件選擇使用。